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(2)缺陷定位功能:通过形态学闭运算与MRAM算法相结合的方式定位缺陷位置。首先将参考PCB与待检测PCB转为灰度图差值处理,得到差异灰度图,再将差异灰度图做二值化,再将该图做闭运算,结合cv库中的函数定位缺陷位置,具体如图4.9所示。并于MRAM算法检测到区域做并集,得到最终缺陷定位结果。
(3)缺陷分类功能:获取到缺陷定位信息,将原图中定位信息表示的区域扣取送入分类网络中。
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