针对公司自研的测距模块（纳米精度，可将测距量装换为模拟量输出），上位机联合模拟量采集卡（PCIE），（PI，0-200um）位移台进行各类精度测试1，硬件驱动开发，基于硬件模块开发C#使用的驱动2，流程开发（驱动位移台运动，读取测距值和模拟量的准确度，稳定性等指标）3，稳定性检测个人100%开发
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