本方案是面向电子产品的测试系统， 集成测试夹具，测试工位，硬件驱动PCBA设计，下位机C代码，FPGA，DSP代码，上位机C++，VB ，VB.net或C# 代码。优势：总合集成高效测试系统，成本低。声明：本文仅代表作者观点，不代表本站立场。如果侵犯到您的合法权益，请联系我们删除侵权资源！如果遇到资源链接失效，请您通过评论或工单的方式通知管理员。未经允许，不得转载，本站所有资源文章禁止商业使用运营!
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